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Oberflächen- und Grenzflächenphysik, Dünne Schichten
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Mertens / Meuris / Heyns Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces XIII
Erscheinungsjahr 2016Verlag: Trans Tech PublicationsISBN: 978-3-0357-3084-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 0 - No protection211,86 € (inkl. MwSt.)
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Yablon Scanning Probe Microscopy in Industrial Applications
Nanomechanical Characterization1. Auflage 2013Verlag: WileyISBN: 978-1-118-28823-8Medium: Buch143,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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