Fisher | Defects and Diffusion in Semiconductors XIII | Buch | 978-3-03785-220-0 | sack.de

Buch, Englisch, 199 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 240 mm, Gewicht: 500 g

Fisher

Defects and Diffusion in Semiconductors XIII

An Annual Retrospective XIII

Buch, Englisch, 199 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 240 mm, Gewicht: 500 g

ISBN: 978-3-03785-220-0
Verlag: Trans Tech Publications


This thirteenth volume in the series covering the latest results in the field includes abstracts of papers which have appeared since the publication of Annual Retrospective XII (Volumes 303-304). As well as the over 300 semiconductor-related abstracts, the issue includes the original papers: “Effect of KCl Addition upon the Photocatalytic Activity of Zinc Sulphide” (D.Vaya, A.Jain, S.Lodha, V.K.Sharma, S.C.Ameta), “Localized Vibrational Mode in Manganese-Doped Zinc Sulphide and Cadmium Sulphide Nanoparticles” (M.Ragam, N.Sankar, K.Ramachandran), “The Effect of a Light Impurity on the Electronic Structure of Dislocations in NiAl” (L.Chen, Z.Qiu), “Analysis of Finite Element Discretisation Schemes for Multi-Phase Darcy Flow” (D.P.Adhikary, A.H.Wilkins), “Theoretical Investigations of the Defect Structure for Ni3+ in ZnO” (Z.H.Zhang, S.Y.Wu, S.X.Zhang).
Fisher Defects and Diffusion in Semiconductors XIII jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Effect of KCl Addition upon the Photocatalytic Activity of Zinc Sulphide
Localized Vibrational Mode in Manganese-Doped Zinc Sulphide and Cadmium Sulphide Nanoparticles
The Effect of a Light Impurity on the Electronic Structure of Dislocations in NiAl
Analysis of Finite Element Discretisation Schemes for Multi-Phase Darcy Flow
Theoretical Investigations of the Defect Structure for Ni3+ in ZnO


Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.