Buch, Deutsch, 639 Seiten, Format (B × H): 173 mm x 246 mm, Gewicht: 1428 g
Fehlerphysik, Ausfallmechanismen, Prüffeldpraxis, Qualitätsüberwachung
Buch, Deutsch, 639 Seiten, Format (B × H): 173 mm x 246 mm, Gewicht: 1428 g
ISBN: 978-3-658-22177-5
Verlag: Springer
Zielgruppe
Professional/practitioner
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
Zuverlässigkeit einbauen.- Verpackungstechnologien und Zuverlässigkeit.- Memristor, der Speicherwiderstand.- Test und Testbarkeit integrierter Schaltungen.- Zuverlässigkeit diskreter passiver Bauelemente.- Zuverlässigkeit von Leistungsbauelementen.- Zuverlässigkeit monolithisch integrierter Schaltungen.- Aspekte der Zuverlässigkeit von Halbleiterspeichern und Mikroprozessoren.- Zuverlässigkeit optoelektronischer Komponenten.- Zuverlässigkeit von Mikro- und Nanosystemen.- Ausfallanalyse.