Vierter Internationaler Kongress für Elektronenmikroskopie / Fourth International Conference on Electron Microscopy / Quatrième Congrès International de Microscopie Électronique
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1960
ISBN: 978-3-642-49481-9
Verlag: Springer
Verhandlungen Band I Physikalisch-Technischer Teil
Buch, Deutsch, 851 Seiten, Paperback, Format (B × H): 210 mm x 279 mm, Gewicht: 2108 g
ISBN: 978-3-642-49481-9
Verlag: Springer
Die vorliegenden Verhandlungen des IV. Internationalen Kongresses für Elektronenmikro· skopie, der unter den Auspizien der International Federation 0/ Electron Microscope Societies im Jahre 1958 in Berlin stattfand, veranschaulichen, in welchem Ausmaß die Elektronenmikroskopie in den letzten Jahren für viele Bereiche der Forschung an Bedeutung gewonnen hat. Etwa 400 Vorträge und einige Diskussionsbemerkungen, vor mehr als 1000 Teilnehmern aus 26 Ländern gehalten, waren zu veröffentlichen, wenn wir der Tradition der früheren Internationalen Kongresse in Delft (1949), in Paris (1950) und in London (1954) treu bleiben wollten. Zum ersten Male war es nicht möglich, alle auf einem Internationalen Kongreß für Elektronenmikroskopie gehaltenen Vorträge in einem einzigen Band zusammenzufassen. Der 1. Band dieser Verhandlungen enthält sowohl die Arbeiten zur Theorie der Elektronenmikroskopie und über die physikalische sowie technische Weiterentwicklung der Geräte, als auch Mitteilungen über die Anwendung des Elek· tronenmikroskops zur Erforschung kristallographischer und technologischer Probleme ein· schließlich der Präparationstechnik. Der 11. Band bringt die Arbeiten über die Anwendung des Elektronenmikroskops zur Lösung biologischer und medizinischer Fragestellungen und über die entsprechenden Prä parationsverfahren. In Abweichung von der Reihenfolge, in der die Vorträge auf dem Kongreß gehalten wurden, waren wir bemüht, die Mitteilungen nach ihrem Sinnzusammenhang in kleinere Sachgruppen einzuordnen, um ein leichtes und schnelles Auffinden zusammengehöriger Themen zu ermöglichen. Die Inhaltsverzeichnisse, die beiden Bänden beigefügt sind, vermitteln eine ausreichende Über. sicht. Jeder Band enthält ein alphabetisches Mitarbeiterverzeichnis.Die Deutsche Gesellschaft für Elektronenmikroskopie, die veranstaltende Organisation, begrüßte mit dankbarer Anerkennung, daß der Springer.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
Eröffnungs-Ansprache.- Opening remarks.- Festvortrag.- Geschichte des Elektrons.- A. Elektronen- und ionenoptische Elemente, Geräte und Verfahren.- 1. Kathoden.- 2. Linsen und Ablenksysteme.- 3. Objekteinrichtungen.- 4. Bildaufzeichnungsverfahren.- 5. Photographische Emulsionen (und Elektronenwirkung auf Silbersalze).- 6. Stereoaufnahme.- 7. Vakuum, Strahlspannung, Linsendurchflutung.- 8. Durchstrahlungsmikroskope.- 9. Reflexions- und Emissionsmikroskopie.- 10. Interferenzmikroskopie und Interferometrie.- 11. Röntgen-Projektionsmikroskopie.- 12. Elektronen- und Röntgen-Rastermikroskopie.- 13. Materialbearbeitung mit Elektronenstrahlen.- B. Einwirkung des Objekts auf Strahl und Bild.- 1. Streuung am Objekt und Bildkontrast.- 2. Abbildung von Kristallgitter-Perioden.- 3. Mehrfachbeugung am Objekt und Entstehung von Moirés.- C. Elektronenmikroskopische Präparationstechnik.- 1. Trägerfolien.- 2. Dünne Objektschichten.- 3. Oberflächen.- 4. Aufdampf- und Abdruckverfahren.- D. Ergebnisse der Elektronenmikroskopie in der Technologie (Kristallographie, Metallographie, Chemie).- 1. Kristallgitter-Strukturen.- 2. Kristallwachstum.- 3. Kristalloberflächen.- 4. Kondensierte Schichten.- 5. Kristallbau-Fehler und Versetzungen.- 6. Umwandlungs- und Ausscheidungsvorgänge in Metallen.- 7. Natürliche und künstliche technologische Fasern.- 8. Verschiedene Produkte der chemischen Technik.- 9. Staube und Rauche.- 10. Spuren-Nachweis.- E. Feldemissionsmikroskopie*.- 1. Feldelektronen-Mikroskopie von Metalloberflächen.- 2. Adsorptionsuntersuchungen an Feldkathoden.- 3. Feldionen-Mikroskopie.
