Barrett / Gilfrich / Huang | Advances in X-Ray Analysis | Buch | 978-1-4613-6532-7 | sack.de

Buch, Englisch, 641 Seiten, Paperback, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 1100 g

Barrett / Gilfrich / Huang

Advances in X-Ray Analysis

Volume 35B
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1992
ISBN: 978-1-4613-6532-7
Verlag: Springer US

Volume 35B

Buch, Englisch, 641 Seiten, Paperback, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 1100 g

ISBN: 978-1-4613-6532-7
Verlag: Springer US

Springer Book Archives

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Zielgruppe

Research

Autoren/Hrsg.

Barrett, C. S.
Gilfrich, John V.
Huang, Ting C.
Smith, Deane K.
Jenkins, Ron
McCarthy, G. J.
Predecki, Paul K.
Ryon, R.

Fachgebiete

Weitere Infos & Material

Whole Pattern Fitting, Rietveld Analysis, and Calculated Diffraction Patterns. Quantitative Phase Analysis by XRay Diffraction (XRD). Thin Film and Surface Characterization by XRD. Lattice Defects and XRay Topography. Texture Analysis by XRD. XRD Instrumentation, Techniques, and Reference Materials. Stress Determination by Diffraction Methods. XRD Profile Fitting, Crystallite Size and Strain Determination. XRD Applications: Detection Limits, Superconductors, Organics, Minerals. Mathematical Methods in XRay Spectrometry (XRS). Thin Film and Surface Characterization by XRS and XPS. Total Reflection XRS. XRS Techniques and Instrumentation. XRS Applications. XRay Imaging and Tomography. 161 articles. Index.

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