Baumann | Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen | E-Book | www.sack.de
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E-Book, Deutsch, 187 Seiten, eBook

Baumann Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen

Simulation mit PSPICE
2. Auflage 2019
ISBN: 978-3-658-26574-8
Verlag: Springer
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

Simulation mit PSPICE

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ISBN: 978-3-658-26574-8
Verlag: Springer
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Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.

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Zielgruppe


Graduate


Autoren/Hrsg.


Weitere Infos & Material


Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.-NTC- und PTC-Sensoren.-RGB-Farbsensor.-Piezoelektrische Summer.-Ultraschallwandler.


Prof. (em.) Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Ausgewählte Kapitel der Elektrotechnik an der Hochschule Bremen.



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