Buch, Deutsch, 100 Seiten, Paperback, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 175 g
Reihe: Sammlung Vieweg
Bestimmung von Kristall- und Deformationsstruktur, Materialdiagnostik
Buch, Deutsch, 100 Seiten, Paperback, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 175 g
Reihe: Sammlung Vieweg
ISBN: 978-3-663-00986-3
Verlag: Vieweg+Teubner Verlag
Dieser Buchtitel ist Teil des Digitalisierungsprojekts Springer Book Archives mit Publikationen, die seit den Anfängen des Verlags von 1842 erschienen sind. Der Verlag stellt mit diesem Archiv Quellen für die historische wie auch die disziplingeschichtliche Forschung zur Verfügung, die jeweils im historischen Kontext betrachtet werden müssen. Dieser Titel erschien in der Zeit vor 1945 und wird daher in seiner zeittypischen politisch-ideologischen Ausrichtung vom Verlag nicht beworben.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
Weitere Infos & Material
I. Allgemeine Grundlagen.- 1. Grundlagen der Röntgenphysik.- 2. Kristallographische Grundlagen.- II. Strukturbestimmungen mit monochromatischem Röntgenlicht.- 1. Das Braggverfahren.- 2. Das Debye-Scherrerverfahren.- 3. Das Drehkristallverfahren.- 4. Liniencharakter im Debye — Scherrerdiagramm und Kristallorientierung.- 5. Liniencharakter im Debye-Scherrerdiagramm und Kristallgröße.- 6. Linienverschiebung im Debye — Scherrerdiagramm und Gitterdeformation.- III. Strukturbestimmungen mit vielfarbigem Röntgenlicht.- Das Laueverfahren.- IV. Die Raumgruppe und der Strukturfaktor.- V. Die Verwendbarkeit der einzelnen röntgenographischen Methoden.- 1. Allgemeines.- 2. Chemische Fragen.- 3. Physikalische Fragen.- VI. Diagnostische Materialuntersuchung.
