Bernstein / Bensoussan / Bender | Reliability Prediction for Microelectronics | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 400 Seiten, E-Book

Reihe: Wiley Series in Quality and Reliability Engineering

Bernstein / Bensoussan / Bender Reliability Prediction for Microelectronics


1. Auflage 2024
ISBN: 978-1-394-21095-4
Verlag: John Wiley & Sons
Format: EPUB
 Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)

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ISBN: 978-1-394-21095-4
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Autoren/Hrsg.

Bernstein, Joseph B.
Bensoussan, Alain
Bender, Emmanuel
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