Buch, Englisch, 568 Seiten, Format (B × H): 263 mm x 219 mm, Gewicht: 1479 g
Semiconductors
Buch, Englisch, 568 Seiten, Format (B × H): 263 mm x 219 mm, Gewicht: 1479 g
ISBN: 978-0-471-49266-5
Verlag: Wiley
Das "Handbook of Monochromatic XPS Spectra" besteht aus den drei Bänden, The Elements and Native Oxides, Semiconductors und Polymers and Polymer Damage. Dies ist Band 2 "Semiconductors" des dreibändigen Nachschlagewerkes. Die drei Bände sind eine in sich abgeschlossene Sammlung monochromatischer XPS-Spektren in der Hand - eine unentbehrliche Hilfe im Laboralltag vieler Analytiker! Einleitende Kapitel erläutern die verwendete instrumentelle Ausrüstung, die Proben und die Verfahren der Spektrenaufnahme. Im Spektrenteil sind alle Peaks beschriftet, die Spektren sind durch umfangreiches Datenmaterial (Atom-%-Tabellen, Bindungsenergien, Halbwertsbreite usw.) ergänzt. Ein Muß für jedes XPS-Labor! (11/00)
Autoren/Hrsg.
Weitere Infos & Material
ORGANIZATION AND DETAILS OF SPECTRAL SETS.
Alphabetical Organization of Spectra.
Contents of Each Set of Spectra.
Philosophy of Data Collection Methods.
Peak-Fitting (Curve-Fitting) of High Energy Resolution Spectra.
Charge Compensation of Insulating Materials.
Abbreviations Used.
INSTRUMENT AND ANALYSIS DETAILS USED TO MAKE SPECTRAL DATA. Instrument Details.
Experimental Details.
Data Processing Details.
Sample Details.
Energy Resolution Details.
Energy Scale Reference Energies and Calibration Details.
Electron Counting and Instrument Response Function Details.
Effects of Poorly Focusing the Distance between the Sample and the Electron Lens.
Quantitation Details and Choice of 'Sensitivity Exponents'.
Crude Tests of the Reliability of Relative Sensitivity Factors.
Traceability Details.
Reference Papers Describing the Capabilities of X-Probe, M-Probe, and S-Probe XPS Systems.
