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Mustererkennung, Biometrik
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Beyerer / Hagmanns / Stadler Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles2. Auflage 2024Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-133919-1Medium: Buch79,95 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Beyerer / Richter / Nagel Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles1. Auflage 2017Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-053796-3Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)84,95 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Beyerer / Hagmanns / Stadler Pattern Recognition
Introduction, Features, Classifiers and Principles2. Auflage 2024Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-133941-2Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)79,95 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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