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Hardware: Grundlagen und Allgemeines
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Aggarwal / Pham / Tandon Optimization Models in Software Reliability
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-78918-3Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Aggarwal / Pham / Tandon Optimization Models in Software Reliability
1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-78921-3Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Pham Applications in Reliability and Statistical Computing
1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-21234-5Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Pham Applications in Reliability and Statistical Computing
1. Auflage 2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-21231-4Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Karanki / Ajit / Vinod Advances in RAMS Engineering
In Honor of Professor Ajit Kumar Verma on His 60th Birthday1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-36520-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Karanki / Ajit / Vinod Advances in RAMS Engineering
In Honor of Professor Ajit Kumar Verma on His 60th Birthday1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-36517-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Pham Statistical Reliability Engineering
Methods, Models and Applications1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-76906-2Medium: Buch85,59 € (inkl. MwSt.)
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Pham Statistical Reliability Engineering
Methods, Models and Applications1. Auflage 2022Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-76903-1Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Pham Reliability and Statistical Computing
Modeling, Methods and Applications1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-43414-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Pham / Ram Advances in Reliability Analysis and its Applications
1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-31374-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Pham Reliability and Statistical Computing
Modeling, Methods and Applications1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-43411-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Pham / Ram Advances in Reliability Analysis and its Applications
1. Auflage 2020Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-030-31377-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Huang / Gan Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-26707-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Huang / Gan Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-26710-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Mizutani / Nakagawa / Zhao Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-27315-5Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Mizutani / Nakagawa / Zhao Which-Is-Better (WIB): Problems in Reliability Theory
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-27318-6Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Nakagawa / Ito Optimal Inspection Models with Their Applications
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-22023-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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Nakagawa / Ito Optimal Inspection Models with Their Applications
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-22020-3Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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