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Bowen / Tanner High Resolution X-Ray Diffractometry and Topography
1. Auflage 2019Verlag: CRC PressISBN: 978-0-367-40063-7Medium: Buch82,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Bowen / Gilfrich / Goldsmith Advances in X-Ray Analysis
Volume 381995. Auflage 1995Verlag: Springer UsISBN: 978-0-306-45045-7Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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