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Technische Wissenschaften
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Huang / Cohen / Eaglesham Advances in Surface and Thin Film Diffraction: Volume 208
Erscheinungsjahr 1991Verlag: Cambridge University PressISBN: 978-1-55899-100-2Medium: Buch41,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Barrett / Amara / Huang Advances in X-Ray Analysis
1991. Auflage 1991Verlag: Springer UsISBN: 978-0-306-44003-8Medium: Buch102,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Bowen / Gilfrich / Goldsmith Advances in X-Ray Analysis
Volume 381995. Auflage 1995Verlag: Springer UsISBN: 978-0-306-45045-7Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Gilfrich / Noyan / Jenkins Advances in X-Ray Analysis
Volume 391998. Auflage 1998Verlag: Springer UsISBN: 978-0-306-45803-3Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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