Gamma- and X-Ray Spectrometry with Semiconductor Detectors | Buch | 978-0-444-87107-7 | sack.de

Buch, Englisch

Gamma- and X-Ray Spectrometry with Semiconductor Detectors


Erscheinungsjahr 1988
ISBN: 978-0-444-87107-7
Verlag: Elsevier Science & Technology

Buch, Englisch

ISBN: 978-0-444-87107-7
Verlag: Elsevier Science & Technology

This book covers the topics essential to gamma- and x-ray spectrometry as it is now practiced with semiconductor detectors in the energy range from 5keV to 3MeV. This includes useful physical and mathematical background information, the components of a standard photon spectrometer, spectrum analysis procedures, the energy and efficiency calibration, energy and emission-rate measurement methods and some application examples.

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Fachgebiete

Weitere Infos & Material

Preface. Introduction. 1. Background material. 2. Experimental setup. 3. Spectrum analysis and energy measurements. 4. Efficiency calibration and emission-rate measurements. 5. Applications. 6. Atomic and nuclear data. References. Indexes.

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