Gao | RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors | Buch | 978-1-891121-89-0 | sack.de

Buch, Englisch, 350 Seiten, Format (B × H): 157 mm x 234 mm, Gewicht: 590 g

Reihe: Electromagnetic Waves

Gao

RF and Microwave Modeling and Measurement Techniques for Field Effect Transistors


Erscheinungsjahr 2010
ISBN: 978-1-891121-89-0
Verlag: Institution of Engineering & Technology

Buch, Englisch, 350 Seiten, Format (B × H): 157 mm x 234 mm, Gewicht: 590 g

Reihe: Electromagnetic Waves

ISBN: 978-1-891121-89-0
Verlag: Institution of Engineering & Technology

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Autoren/Hrsg.

Gao, Jianjun
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