Hÿtch | Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1 | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, Band Volume 232, 232 Seiten

Reihe: Advances in Imaging and Electron Physics

Hÿtch Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1


1. Auflage 2024
ISBN: 978-0-443-29787-8
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: EPUB
 Kopierschutz: 6 - ePub Watermark

E-Book, Englisch, Band Volume 232, 232 Seiten

Reihe: Advances in Imaging and Electron Physics

ISBN: 978-0-443-29787-8
Verlag: Elsevier Science & Techn.
Format: EPUB
 Kopierschutz: 6 - ePub Watermark

Advances in Optics of Charged Particle Analyzers: Part 1, Volume 232 merges two long-running serials, Advances in Electronics and Electron Physics and Advances in Optical and Electron Microscopy. The series features articles on the physics of electron devices (especially semiconductor devices), particle optics at high and low energies, microlithography, image science, digital image processing, electromagnetic wave propagation, electron microscopy, and the computing methods used in all these domains. Specific chapters cover Introduction to inverse problems in electron microscopy, Directional sinogram inpainting for limited angle tomography, Strain tomography of crystals, FISTA with adaptive discretization, Total variation discretization, and Reconstruction with a Gaussian Dictionary. - Provides the authority and expertise of leading contributors from an international board of authors - Presents the latest release in the Advances in Imaging and Electron Physics series

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Autoren/Hrsg.

Hÿtch, Martin
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