Knack | Copper- and Hydrogen-Related Defects in Silicon | Buch | 978-3-8325-0084-9 | sack.de

Buch, Englisch, 120 Seiten, Format (B × H): 145 mm x 210 mm

Knack

Copper- and Hydrogen-Related Defects in Silicon


Erscheinungsjahr 2002
ISBN: 978-3-8325-0084-9
Verlag: Logos

Buch, Englisch, 120 Seiten, Format (B × H): 145 mm x 210 mm

ISBN: 978-3-8325-0084-9
Verlag: Logos

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Autoren/Hrsg.

Knack, Steffen

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