Marek / Pobegen / Grossner | Defects and Synchrotron X-Ray Topography in Silicone-Carbide Based Devices | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 152 Seiten

Marek / Pobegen / Grossner Defects and Synchrotron X-Ray Topography in Silicone-Carbide Based Devices


Erscheinungsjahr 2023
ISBN: 978-3-0364-1332-7
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 152 Seiten

ISBN: 978-3-0364-1332-7
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

The presented special edition is devoted to the latest research in semiconductor materials and devices on silicon carbide and the design and research of machines and equipment. This issue will be helpful to specialists engaged in the design and production of power electronics and to mechanical engineers.

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Autoren/Hrsg.

Marek, Juraj
Pobegen, Gregor
Grossner, Ulrike

Fachgebiete

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