Buch, Englisch, 459 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1850 g
Buch, Englisch, 459 Seiten, HC runder Rücken kaschiert, Format (B × H): 160 mm x 241 mm, Gewicht: 1850 g
ISBN: 978-1-4020-7407-3
Verlag: Springer US
The authors of this book's chapters are leaders in this revolution. They work on the front lines of research in government, industry, and universities, inventing yet more ways to harness the power of light for the generation of knowledge.
Zielgruppe
Research
Autoren/Hrsg.
Fachgebiete
- Naturwissenschaften Chemie Organische Chemie Polymerchemie
- Naturwissenschaften Physik Elektromagnetismus Optik
- Technische Wissenschaften Sonstige Technologien | Angewandte Technik Angewandte Optik
- Naturwissenschaften Physik Mechanik Klassische Mechanik, Newtonsche Mechanik
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Materialwissenschaft: Polymerwerkstoffe
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffkunde, Materialwissenschaft: Forschungsmethoden
- Technische Wissenschaften Verfahrenstechnik | Chemieingenieurwesen | Biotechnologie Technologie der Kunststoffe und Polymere
- Technische Wissenschaften Technik Allgemein Physik, Chemie für Ingenieure
- Technische Wissenschaften Maschinenbau | Werkstoffkunde Technische Mechanik | Werkstoffkunde Werkstoffprüfung
Weitere Infos & Material
1. Schlieren.- 2. Interferometric Flow Measurement.- 3. Digital Particle Image Velocimetry.- 4. Dynamic Flow Measurements Based on Molecular Rayleigh Scattering.- 5. Spray Diagnostics.- 6. Combustion Imaging Using Fluorescence and Elastic Scattering.- 7. Tunable Diode Laser Sensors for Combustion.- 8. Particulate Measurement Methods.- 9. Luminescent Paints for Pressure and Temperature Measurements.- 10. Pyrometry for Temperature Measurements.- 11. Surface Shear Stress Measurements.- 12. Fiber Grating Strain Sensors.- 13. Surface Deformation Measurements.- 14. Damage Detection Using Holography and Interferometry.