Murch | Defect and Diffusion Forum Vols. 131-132 | E-Book | sack.de
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E-Book, Englisch, 285 Seiten

Murch Defect and Diffusion Forum Vols. 131-132


Erscheinungsjahr 1996
ISBN: 978-3-0357-3998-5
Verlag: Trans Tech Publications
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

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ISBN: 978-3-0357-3998-5
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Journal issue

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Autoren/Hrsg.

Murch, Graeme E.

Weitere Infos & Material

Radiation Damage in Yba2Cu3O7 Superconductors
Hydrogen-Dopant Interactins in Crystalline Semiconductors
Interstitial Defect Reactions in Silicion: The Case of Copper

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