Rumiantsev | On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond | E-Book | sack.de
E-Book

E-Book, Englisch, 156 Seiten

Rumiantsev On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond


Erscheinungsjahr 2022
ISBN: 978-1-000-79285-0
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

E-Book, Englisch, 156 Seiten

ISBN: 978-1-000-79285-0
Verlag: Taylor & Francis eBooks
Format: PDF
 Kopierschutz: 0 - No protection

Rumiantsev On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond jetzt bestellen!

Autoren/Hrsg.

Rumiantsev, Andrej
Ihre Fragen, Wünsche oder Anmerkungen
Vorname*
Nachname*
Ihre E-Mail-Adresse*
Kundennr.
Ihre Nachricht*
Lediglich mit * gekennzeichnete Felder sind Pflichtfelder.
Wenn Sie die im Kontaktformular eingegebenen Daten durch Klick auf den nachfolgenden Button übersenden, erklären Sie sich damit einverstanden, dass wir Ihr Angaben für die Beantwortung Ihrer Anfrage verwenden. Selbstverständlich werden Ihre Daten vertraulich behandelt und nicht an Dritte weitergegeben. Sie können der Verwendung Ihrer Daten jederzeit widersprechen. Das Datenhandling bei Sack Fachmedien erklären wir Ihnen in unserer Datenschutzerklärung.