Deskriptive Statistik

Eine Einführung in Methoden und Anwendungen mit R und SPSS
7., aktualisierte und erweiterte Auflage 2009
ISBN: 978-3-642-01834-3
Verlag: Springer

Buch, Deutsch, 394 Seiten, Paperback, Format (B × H): 155 mm x 235 mm, Gewicht: 616 g

Reihe: Springer-Lehrbuch

Statistische Verfahren werden sowohl in der Wirtschaft als auch in den Natur- und Sozialwissenschaften eingesetzt. Die Statistik gilt trotzdem als schwierig. Um diese Hemmschwelle zu überwinden, geben die Autoren eine didaktisch ausgefeilte, anwendungsbezogene Einführung in die Methoden der deskriptiven Statistik und Datenanalyse. Anhand praxisnaher Beispiele werden die Ideen des Datenmanagements und der Datenauswertung unter Einsatz von SPSS und R beschrieben. Viele Übungsaufgaben (mit Lösungen) unterstützen das (Selbst-) Studium der Leser. Das Buch deckt den Stoff Statistik I an deutschsprachigen Universitäten vollständig ab. Neu in dieser Auflage ist eine Einführung in die logistische Regression, deren Konzept auch anhand der statistischen Software SPSS und R erläutert wird. Des Weiteren wurden viele Beispiele und Übungsaufgaben thematisch überarbeitet.

Zielgruppe

Upper undergraduate

Autoren/Hrsg.

Toutenburg, Helge

Heumann, Christian

Weitere Mitwirkende

Schomaker, Michael

Fachgebiete

• Mathematik | Informatik Mathematik Operations Research Spieltheorie
• Wirtschaftswissenschaften Volkswirtschaftslehre Volkswirtschaftslehre Allgemein Ökonometrie
• Interdisziplinäres Wissenschaften Wissenschaften: Forschung und Information Datenanalyse, Datenverarbeitung
• Mathematik | Informatik EDV | Informatik Business Application Mathematische & Statistische Software
• Sozialwissenschaften Soziologie | Soziale Arbeit Soziologie Allgemein Empirische Sozialforschung, Statistik
• Wirtschaftswissenschaften Betriebswirtschaft Wirtschaftsmathematik und -statistik

Inhaltsverzeichnis

Grundlagen.- H#x00E4;ufigkeitsverteilungen.- Ma#x00DF;zahlen und Grafiken f#x00FC;r eindimensionale Merkmale.- Ma#x00DF;zahlen und Grafiken f#x00FC;r den Zusammenhang zweier Merkmale.- Zweidimensionale Merkmale: Lineare Regression.- Zeitreihen.- Verh#x00E4;ltniszahlen und Indizes.- Fehlende Daten.- Einf#x00FC;hrung in SPSS.- Einf#x00FC;hrung in R.

Über Autor(innen)

Helge Toutenburg studierte (1961-1966) und promovierte (1969) in Berlin, habilitierte in Dortmund (1989). Er ist seit 1991 Professor für Statistik an der Ludwig-Maximilians-Universität München und ist Autor von 40 Monographien und über 120 Artikeln.

Christian Heumann studierte (1987-1992) Diplom-Statistik, promovierte 1997 und habilitierte 2004 an der Ludwig-Maximilians-Universität München. Er forscht und publiziert u.a. über fehlende Daten, Modelle für korrelierte kategoriale Daten und Rater-Agreement-Modelle.