Turner / Hartwell | Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices | Buch | 978-0-387-30862-3 | sack.de

Buch, Englisch, Band 170, 500 Seiten

Reihe: Microsystems

Turner / Hartwell

Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices


Erscheinungsjahr 2007
ISBN: 978-0-387-30862-3
Verlag: Springer

Buch, Englisch, Band 170, 500 Seiten

Reihe: Microsystems

ISBN: 978-0-387-30862-3
Verlag: Springer

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Autoren/Hrsg.

Turner, Kimberly L.
Hartwell, Peter G.
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