Demkov / Taylor / Harris | CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications | Buch | 978-1-107-40832-6 | sack.de

Buch, Englisch, 194 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 290 g

Demkov / Taylor / Harris

CMOS Gate-Stack Scaling Materials, Interfaces and Reliability Implications

Volume 1155
Erscheinungsjahr 2012
ISBN: 978-1-107-40832-6
Verlag: Cambridge University Press

Volume 1155

Buch, Englisch, 194 Seiten, Format (B × H): 152 mm x 229 mm, Gewicht: 290 g

ISBN: 978-1-107-40832-6
Verlag: Cambridge University Press

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Autoren/Hrsg.

Demkov, Alexander A.
Taylor, Bill
Harris, H. Rusty
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