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EDV | Informatik
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Gimel´farb / Hancock / Imiya Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
Joint IAPR International Workshop, SSPR & SPR 2012, Hiroshima, Japan, November 7-9, 2012, Proceedings2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-34165-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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