Ergebnisse filtern

Massenspektrometrie, Spektroskopie, Spektrochemie

1 Treffer für „Pichler, Peter“

Pichler, Peter

Alle Filter löschen

Ergebnisse Filtern

Pichler Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon

Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004

Verlag: Springer Vienna

ISBN: 978-3-7091-7204-9

Medium: Buch

320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage

320,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Tage

vorherige Seite

nächste Seite

Artikel pro Seite:

Sortierung nach:

Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular

Für Ihr bestmögliches Sack Fachmedien Erlebnis nutzen wir Cookies

Wir verwenden Cookies, um Ihr Erlebnis auf www.sack.de laufend zu verbessern. Einige sind technisch notwendig, um Ihnen unsere Dienste zur Verfügung stellen zu können. Andere helfen uns, die Inhalte unserer Seite an Ihre Anforderungen optimal anzupassen. Weitere Informationen finden Sie in unserer Datenschutzerklärung. Mit Klick auf „Alle akzeptieren“ stimmen Sie der Verwendung aller Cookies zu. Sie haben die Möglichkeit, Ihre Einstellungen jederzeit individuell anzupassen. Nähere Informationen dazu finden Sie in unseren Datenschutzhinweisen.

Notwendig

Statistik

Massenspektrometrie, Spektroskopie, Spektrochemie

Pichler Intrinsic Point Defects, Impurities, and Their Diffusion in Silicon