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Mikroskopie, Spektroskopie

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    Bowen / Hilal | ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN PROCESS ENGINEERING | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Bowen / Hilal ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN PROCESS ENGINEERING

    AN INTRODUCTION TO AFM FOR IMPROVED PROCESSES AND PRODUCTS
    1. Auflage 2009
    Verlag: Elsevier Science & Technology
    ISBN: 978-0-08-094957-4
    Medium: eBook
    Format: EPUB
     Kopierschutz: 6 - ePub Watermark
    137,00 € (inkl. MwSt.)
    sofort verfügbar
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