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Peiponen / Kuwata-Gonokami / Zeitler Terahertz Spectroscopy and Imaging
2013Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-43904-9Medium: Buch299,59 € (inkl. MwSt.)
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Kissler-Patig / Roth / Walsh Science Perspectives for 3D Spectroscopy
Proceedings of the ESO Workshop held in Garching, Germany, 10-14 October 20051. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09259-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Mitani / Shimizu New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-26168-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage106,99 € (inkl. MwSt.)
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Mitani / Shimizu New Horizons of Applied Scanning Electron Microscopy
2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-03159-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage106,99 € (inkl. MwSt.)
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Yamashita / Morita / Shigekawa Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy
Route to Femtosecond Ångstrom TechnologySoftcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05983-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Lieferfrist: bis zu 10 Tage
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Keppeler Spinning Particles-Semiclassics and Spectral Statistics
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2003Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05678-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Tage
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Spence / Zuo Electron Microdiffraction
1992Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-44262-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage213,99 € (inkl. MwSt.)
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Tucker / Rochow Introduction to Microscopy by Means of Light, Electrons, X Rays, or Acoustics
2. Auflage 1994Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-44684-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Poulsen Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy
Mapping Polycrystals and their Dynamics2004Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-22330-6Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Kaupp Atomic Force Microscopy, Scanning Nearfield Optical Microscopy and Nanoscratching
Application to Rough and Natural Surfaces1. Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-28405-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods III
Characterization2006Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-26909-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Mercader / Baggio-Saitovitch / Gancedo LACAME 2004
Proceedings of the 9th Latin American Conference on the Applications of the Mössbauer Effect, (LACAME 2004) held in Mexico City, Mexico, 19-24 September 20042005Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-28959-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Dierolf Electronic Defect States in Alkali Halides
Effects of Interaction with Molecular Ions2003Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-00471-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Dus?ek / Abe / Kobayashi Filler-Reinforced Elastomers Scanning Force Microscopy
2003Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-00530-8Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V
Scanning Probe Microscopy Techniques2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-37315-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Kawata / Bhushan Applied Scanning Probe Methods VI
Characterization2007Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-37318-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Peiponen / Asakura / Vartiainen Dispersion, Complex Analysis and Optical Spectroscopy
Classical Theory1999Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-64522-1Medium: Buch181,89 € (inkl. MwSt.)
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Kobayashi Ultrashort Pulse Lasers and Ultrafast Phenomena
1. Auflage 2024Verlag: CRC PressISBN: 978-1-032-41172-9Medium: Buch93,00 € (inkl. MwSt.)
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Zabloudil / Hammerling / Szunyogh Electron Scattering in Solid Matter
A Theoretical and Computational TreatiseErscheinungsjahr 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-22524-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Pietsch / Baumbach / Holy High-Resolution X-Ray Scattering
From Thin Films to Lateral Nanostructures2. Auflage 2004. Softcover Nachdruck of the original 2. Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-1-4419-2307-3Medium: Buch96,29 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage96,29 € (inkl. MwSt.)
Lieferfrist: bis zu 10 Tage
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Dufrene Life at the Nanoscale
Atomic Force Microscopy of Live CellsErscheinungsjahr 2019Verlag: Pan Stanford PublishingISBN: 978-981-4267-97-7Medium: eBookFormat: PDF
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Vij Handbook of Applied Solid State Spectroscopy
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4088-9Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
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Kirkland Advanced Computing in Electron Microscopy
2. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-9509-4Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Suhir / Wong / Lee Micro- and Opto-Electronic Materials and Structures: Physics, Mechanics, Design, Reliability, Packaging
Volume I Materials Physics - Materials Mechanics. Volume II Physical Design - Reliability and PackagingSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-7885-1Medium: Buch599,98 € (inkl. MwSt.)
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Lund / Shimada / Shiotani Principles and Applications of ESR Spectroscopy
1. Auflage. 2011Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-1-4020-5343-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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