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Bruma Scanning Transmission Electron Microscopy
Advanced Characterization Methods for Materials Science Applications1. Auflage 2024Verlag: Taylor & Francis Ltd (Sales)ISBN: 978-0-367-65538-9Medium: Buch64,50 € (inkl. MwSt.)
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Lamberti / Lin / Furlong Advancement of Optical Methods in Experimental Mechanics, Volume 3
Proceedings of the 2017 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics1. Auflage 2018Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-63027-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Fundamentals of the Greenhouse Phenomenon1. Auflage 2020Verlag: De GruyterISBN: 978-3-11-062903-3Medium: eBookFormat: EPUB
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Zou / Hovmöller / Oleynikov Electron Crystallography
Electron Microscopy and Electron DiffractionErscheinungsjahr 2028Verlag: Oxford University PressISBN: 978-0-19-878922-2Medium: Buch38,50 € (inkl. MwSt.)
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Kanoun Lecture Notes on Impedance Spectroscopy
Measurement, Modeling and Applications, Volume 1Erscheinungsjahr 2011Verlag: Taylor & FrancisISBN: 978-0-203-61075-6Medium: eBookFormat: PDF
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Rein Lifetime Spectroscopy
A Method of Defect Characterization in Silicon for Photovoltaic Applications2005Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-25303-7Medium: Buch320,99 € (inkl. MwSt.)
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Gucsik Cathodoluminescence and its Application in the Planetary Sciences
Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09957-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Leitner Studying Atomic Dynamics with Coherent X-rays
2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-43622-2Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Michler Electron Microscopy of Polymers
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2008Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07166-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Elias Stereology
Proceedings of the Second International Congress for STEREOLOGY, Chicago¿April 8¿13, 1967Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1967Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-03987-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Castleman / Khanna Quantum Phenomena in Clusters and Nanostructures
2003Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-00015-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Kawata / Fuchs Applied Scanning Probe Methods V
Scanning Probe Microscopy TechniquesSoftcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07211-6Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Gibaud / Daillant X-ray and Neutron Reflectivity
Principles and Applications1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-10017-8Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Iwamae / Fujimoto Plasma Polarization Spectroscopy
2008Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-73586-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Watanabe / Heun / Salviati Nanoscale Spectroscopy and Its Applications to Semiconductor Research
2002Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-43312-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Fuchs / Bhushan Applied Scanning Probe Methods XI
Scanning Probe Microscopy Techniques1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-09869-7Medium: Buch117,69 € (inkl. MwSt.)
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Dragoman Optical Characterization of Solids
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2002Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-07521-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Leitner Studying Atomic Dynamics with Coherent X-rays
2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-24120-8Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Yamashita / Shigekawa / Morita Mono-Cycle Photonics and Optical Scanning Tunneling Microscopy
Route to Femtosecond Ångstrom Technology2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-21446-5Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Schulz / Hertel Atome, Moleküle und optische Physik 1
Atome und Grundlagen ihrer Spektroskopie2. Auflage 2017Verlag: SpringerISBN: 978-3-662-53103-7Medium: Buch64,99 € (inkl. MwSt.)
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Leach Optical Measurement of Surface Topography
1. Auflage 2011Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-12011-4Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage235,39 € (inkl. MwSt.)
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Bhushan / Fuchs Applied Scanning Probe Methods IV
Industrial Applications2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-26912-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Finkler Scanning SQUID Microscope for Studying Vortex Matter in Type-II Superconductors
2012Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-43152-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Schmidbauer X-Ray Diffuse Scattering from Self-Organized Mesoscopic Semiconductor Structures
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-05769-4Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Dragoman Optical Characterization of Solids
2002Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-41803-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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