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Physik
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Bowen / Hilal ATOMIC FORCE MICROSCOPY IN PROCESS ENGINEERING
AN INTRODUCTION TO AFM FOR IMPROVED PROCESSES AND PRODUCTS1. Auflage 2009Verlag: Elsevier Science & TechnologyISBN: 978-0-08-094957-4Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark137,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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