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Nathan / Li CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet
Degradation Behavior and Damage Mechanisms1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-06152-3Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Li / Nathan CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet
Degradation Behavior and Damage Mechanisms1. Auflage 2005Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-22680-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Li / Nathan CCD Image Sensors in Deep-Ultraviolet
Degradation Behavior and Damage Mechanisms1. Auflage 2006Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-27412-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Li / Nathan / Wu Organic Thin Film Transistor Integration
A Hybrid Approach1. Auflage 2011Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-63445-3Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)120,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Li / Nathan / Wu Organic Thin Film Transistor Integration
A Hybrid Approach1. Auflage 2013Verlag: Wiley-VCHISBN: 978-3-527-63446-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Adobe DRM (»Systemvoraussetzungen)120,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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