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Nishida / Kenny Noise in MEMs Transducers
PREL 1551. Auflage 2011Verlag: Springer-Verlag New YorkISBN: 978-0-387-46285-1Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
Sun / Thompson / Nishida Strain Effect in Semiconductors
Theory and Device Applications2010. Auflage 2009Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-1-4419-0551-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Sun / Thompson / Nishida Strain Effect in Semiconductors
Theory and Device Applications2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-0552-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: Wasserzeichen (»Systemvoraussetzungen)149,79 € (inkl. MwSt.)
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Sun / Nishida / Thompson Strain Effect in Semiconductors
Theory and Device Applications2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8315-2Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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