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    Simoen / Claeys | Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies | Buch | Sack Fachmedien

    Simoen / Claeys Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

    Origin, Characterization, Control, and Device Impact
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-93924-7
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Claeys / Simoen | Germanium-Based Technologies | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Claeys / Simoen Germanium-Based Technologies

    From Materials to Devices
    1. Auflage 2011
    Verlag: Elsevier Science & Techn.
    ISBN: 978-0-08-047490-8
    Medium: eBook
    Format: EPUB
     Kopierschutz: 6 - ePub Watermark
    149,00 € (inkl. MwSt.)
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    Claeys / Simoen | Extended Defects in Germanium | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Claeys / Simoen Extended Defects in Germanium

    Fundamental and Technological Aspects
    1. Auflage 2008
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-540-85614-6
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Claeys / Simoen | Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Claeys / Simoen Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

    Origin, Characterization, Control, and Device Impact
    1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-93925-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    171,19 € (inkl. MwSt.)
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    Simoen / Claeys | Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Simoen / Claeys Random Telegraph Signals in Semiconductor Devices

    Erscheinungsjahr 2016
    Verlag: Institute of Physics Publishing
    ISBN: 978-0-7503-1272-1
    Medium: eBook
    Format: EPUB
     Kopierschutz: 0 - No protection
    165,99 € (inkl. MwSt.)
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    Simoen / Claeys | Extended Defects in Germanium | Buch | Sack Fachmedien

    Simoen / Claeys Extended Defects in Germanium

    Fundamental and Technological Aspects
    2009
    Verlag: Springer Berlin Heidelberg
    ISBN: 978-3-540-85611-5
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Simoen / Claeys | Extended Defects in Germanium | Buch | Sack Fachmedien

    Simoen / Claeys Extended Defects in Germanium

    Fundamental and Technological Aspects
    Softcover Nachdruck of hardcover 1. Auflage 2009
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-642-09921-2
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Simoen / Claeys | Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies | Buch | Sack Fachmedien

    Simoen / Claeys Metal Impurities in Silicon- and Germanium-Based Technologies

    Origin, Characterization, Control, and Device Impact
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2018
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-06747-2
    Medium: Buch
    181,89 € (inkl. MwSt.)
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    Claeys / Simoen | Germanium-Based Technologies | Buch | Sack Fachmedien

    Claeys / Simoen Germanium-Based Technologies

    From Materials to Devices
    Erscheinungsjahr 2007
    Verlag: Elsevier Science
    ISBN: 978-0-08-044953-1
    Medium: Buch
    207,50 € (inkl. MwSt.)
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    Radamson / Simoen / Luo | CMOS Past, Present and Future | Buch | Sack Fachmedien

    Radamson / Simoen / Luo CMOS Past, Present and Future

    Erscheinungsjahr 2018
    Verlag: Elsevier Science & Technology
    ISBN: 978-0-08-102139-2
    Medium: Buch
    193,50 € (inkl. MwSt.)
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    Radamson / Simoen / Luo | CMOS Past, Present and Future | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Radamson / Simoen / Luo CMOS Past, Present and Future

    1. Auflage 2018
    Verlag: Elsevier Science & Techn.
    ISBN: 978-0-08-102140-8
    Medium: eBook
    Format: EPUB
     Kopierschutz: 6 - ePub Watermark
    185,00 € (inkl. MwSt.)
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