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Singhee / Rutenbar Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
2009. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-3099-3Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Singhee / Rutenbar Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-6606-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar -
Rutenbar / Singhee Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-2672-1Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Singhee / Rutenbar Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
2009Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-90-481-3100-6Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Singhee / Rutenbar Extreme Statistics in Nanoscale Memory Design
2010. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-6605-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Rutenbar / Singhee Novel Algorithms for Fast Statistical Analysis of Scaled Circuits
2009Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-3687-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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