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Goh / Tan Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
1. Auflage 2017Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-10-3288-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Goh / Tan Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-10-9834-5Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan Simulated Annealing
Erscheinungsjahr 2008Verlag: IntechOpenISBN: 978-953-7619-07-7Medium: Buch155,00 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / Singh Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
1. Auflage 2022Verlag: Elsevier Science & Techn.ISBN: 978-0-12-822407-6Medium: eBookFormat: EPUB
Kopierschutz: 6 - ePub Watermark175,00 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Tan / Singh Reliability and Failure Analysis of High-Power LED Packaging
Erscheinungsjahr 2022Verlag: William Andrew PublishingISBN: 978-0-12-822408-3Medium: BuchLieferzeit ca. 10 Werktage -
He / Tan Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
2013Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-4451-20-8Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / He Electromigration Modeling at Circuit Layout Level
2013Verlag: Springer SingaporeISBN: 978-981-4451-21-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark53,49 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Tan / Goh Theory and Practice of Quality and Reliability Engineering in Asia Industry
1. Auflage 2017Verlag: Springer SingaporeISBN: 978-981-10-3290-5Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark213,99 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2641-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-309-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Tan / Li / Gan Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-310-7Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
sofort verfügbar
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