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12  Treffer  für „Zorian, Yervant“
    Baloian / Shoukouryan / Zorian | Collaboration and Technology | Buch | Sack Fachmedien

    Baloian / Shoukouryan / Zorian Collaboration and Technology

    21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings
    1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-22746-7
    Medium: Buch
    51,36 € (inkl. MwSt.)
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    Zorian | Multi-Chip Module Test Strategies | Buch | Sack Fachmedien

    Zorian Multi-Chip Module Test Strategies

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1997
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4613-7798-6
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Zorian | Multi-Chip Module Test Strategies | Buch | Sack Fachmedien

    Zorian Multi-Chip Module Test Strategies

    <em>Nachdrucked from JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 10:1-2</em> 1997
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-9920-9
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Zorian | Multi-Chip Module Test Strategies | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Zorian Multi-Chip Module Test Strategies

    Erscheinungsjahr 2012
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4615-6107-1
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Mourad / Zorian | Principles of Testing Electronic Systems | Buch | Sack Fachmedien

    Mourad / Zorian Principles of Testing Electronic Systems

    1. Auflage 2000
    Verlag: Wiley
    ISBN: 978-0-471-31931-3
    Medium: Buch
    190,50 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos / Zorian / Paschalis | Embedded Processor-Based Self-Test | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5252-3
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos / Paschalis / Zorian | Embedded Processor-Based Self-Test | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Gizopoulos / Paschalis / Zorian Embedded Processor-Based Self-Test

    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-2801-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    149,79 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis / Pradhan / Zorian | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI

    Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4419-5033-8
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis / Zorian / Pradhan | On-Line Testing for VLSI | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI

    Erscheinungsjahr 2013
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4757-6069-9
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    96,29 € (inkl. MwSt.)
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    Gizopoulos / Zorian / Paschalis | Embedded Processor-Based Self-Test | Buch | Sack Fachmedien

    Gizopoulos / Zorian / Paschalis Embedded Processor-Based Self-Test

    2004
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-1-4020-2785-7
    Medium: Buch
    160,49 € (inkl. MwSt.)
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    Nicolaidis / Pradhan / Zorian | On-Line Testing for VLSI | Buch | Sack Fachmedien

    Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI

    <em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998
    Verlag: Springer US
    ISBN: 978-0-7923-8132-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
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    Baloian / Zorian / Taslakian | Collaboration and Technology | eBook | Sack Fachmedien
    E-Book

    Baloian / Zorian / Taslakian Collaboration and Technology

    21st International Conference, CRIWG 2015, Yerevan, Armenia, September 22-25, 2015, Proceedings
    1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-22747-4
    Medium: eBook
    Format: PDF
     Kopierschutz: 1 - PDF Watermark
    50,28 € (inkl. MwSt.)
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