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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29408-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies1. Auflage 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-29409-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Gizopoulos Advances in Electronic Testing
Challenges and Methodologies2006Verlag: Springer USISBN: 978-1-4899-8773-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-007-3093-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault2010. Auflage 2009Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-3281-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Wunderlich Models in Hardware Testing
Lecture Notes of the Forum in Honor of Christian Landrault1. Auflage 2009Verlag: Springer NetherlandISBN: 978-90-481-3282-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-7991-1Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Bushnell / Agrawal Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
Erscheinungsjahr 2006Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47040-0Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark128,39 € (inkl. MwSt.)
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Agrawal / Bushnell Essentials of Electronic Testing for Digital, Memory and Mixed-Signal VLSI Circuits
2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8142-7Medium: Buch139,09 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
1. Auflage 2010Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-6993-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011Verlag: Springer USISBN: 978-1-4614-2689-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis Soft Errors in Modern Electronic Systems
2011. Auflage 2010Verlag: Springer UsISBN: 978-1-4419-6992-7Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
1997Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-9945-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7255-0Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-Test2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-8474-9Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Thadikaran / Chakravarty Introduction to IDDQ Testing
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2002Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-7812-9Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Adams High Performance Memory Testing
Design Principles, Fault Modeling and Self-TestErscheinungsjahr 2005Verlag: Springer USISBN: 978-0-306-47972-4Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark149,79 € (inkl. MwSt.)
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Chakravarty / Thadikaran Introduction to IDDQ Testing
Erscheinungsjahr 2012Verlag: Springer USISBN: 978-1-4615-6137-8Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
<em>Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2</em> 1998Verlag: Springer USISBN: 978-0-7923-8132-7Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Pradhan / Zorian On-Line Testing for VLSI
Nachdrucked from THE JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING, 12:1-2. Softcover version of original hardcover Auflage 1998Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5033-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-5430-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test Patterns2004Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7752-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Hamdioui Testing Static Random Access Memories
Defects, Fault Models and Test PatternsErscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6706-3Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Nicolaidis / Zorian / Pradhan On-Line Testing for VLSI
Erscheinungsjahr 2013Verlag: Springer USISBN: 978-1-4757-6069-9Medium: eBookFormat: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark96,29 € (inkl. MwSt.)
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Al-Hashimi / Nicolici Power-Constrained Testing of VLSI Circuits
A Guide to the IEEE 1149.4 Test Standard2003Verlag: Springer USISBN: 978-1-4020-7235-2Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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