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Halb- und Supraleitertechnologie
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-309-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2641-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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