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Tollis / Tamassia Graph Drawing
DIMACS International Workshop, GD '94, Princeton, New Jersey, USA, October 10 - 12, 1994. Proceedings1995Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-58950-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Snepscheut Trace Theory and VLSI Design
1985Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-15988-9Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Pierre / Milne Correct Hardware Design and Verification Methods
IFIP WG 10.2 Advanced Research Working Conference, CHARME'93, Arles, France, May 24-26, 1993. Proceedings1993Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-56778-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Hunt FM8501: A Verified Microprocessor
1994Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-57960-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Hochet / Bellido / Acosta Integrated Circuit Design. Power and Timing Modeling, Optimization and Simulation
12th International Workshop, PATMOS 2002, Seville, Spain, September 11 - 13, 20022002Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-44143-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Schubert / Alves-Foss / Windley Higher Order Logic Theorem Proving and Its Applications
8th International Workshop, Aspen Grove, UT, USA, September 11 - 14, 1995. Proceedings1995Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-60275-0Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Luk / Moore Field-Programmable Logic and Applications
5th International Workshop, FPL '95, Oxford, United Kingdom, August 29 - September 1, 1995. Proceedings1995Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-60294-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Thayse Boolean Calculus of Differences
1981Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-10286-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Baker Memory Management
International Workshop IWMM 95, Kinross, UK, September 27 - 29, 1995. Proceedings1995Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-60368-9Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Eveking / Camurati Correct Hardware Design and Verification Methods
IFIP WG10.5 Advanced Research Working Conference, CHARME '95, Frankfurt, Germany, October 1995. Proceedings1995Verlag: Springer Berlin HeidelbergISBN: 978-3-540-60385-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Rosloniec Fundamental Numerical Methods for Electrical Engineering
2008Verlag: SpringerISBN: 978-3-540-79518-6Medium: Buch160,49 € (inkl. MwSt.)
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Aliev Digital Noise Monitoring of Defect Origin
1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4410-8Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Aliev Digital Noise Monitoring of Defect Origin
2007. Auflage 2007Verlag: Palgrave MacMillan UsISBN: 978-0-387-71753-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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