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Elektronik
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Huang / Gan Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-26707-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Huang / Gan Interconnect Reliability in Advanced Memory Device Packaging
2023Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-031-26710-9Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
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Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-0-85729-309-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage -
Tan / Hou / Li Applications of Finite Element Methods for Reliability Studies on ULSI Interconnections
2011Verlag: SpringerISBN: 978-1-4471-2641-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Salicone Measurement Uncertainty
An Approach via the Mathematical Theory of Evidence1. Auflage. Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4034-6Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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Salicone Measurement Uncertainty
An Approach Via the Mathematical Theory of Evidence2007. Auflage 2006Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-0-387-30655-1Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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