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Elektronik | Nachrichtentechnik
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Malarvel / Nayak / Pattnaik Machine Vision Inspection Systems, Machine Learning-Based Approaches
Volume 2 AuflageVerlag: WileyISBN: 978-1-119-78609-2Medium: Buch240,50 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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