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Materialwissenschaft: Elektronik, Optik
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Breitenstein / Langenkamp / Warta Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials2. Auflage 2010Verlag: SpringerISBN: 978-3-642-02416-0Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Breitenstein / Schubert / Warta Lock-in Thermography
Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials3rd Auflage 2018Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-99824-4Medium: Buch171,19 € (inkl. MwSt.)
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