Ergebnisse filtern
Fachgebiet
Medium
  • 11
  • 1
Erscheinungsjahr
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 1
  • 3
  • 4
Autoren
  • 1
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
  • 2
  • 2
  • 2
  • 1
  • 2
Verlag
  • 1
  • 1
  • 6
  • 2
  • 2
Preis
  • 2
  • 10
Sprachen
  • 12
Verfügbarkeit
  • 12
Katalog
  • 12

Zerstörungsfreie Werkstoffprüfung

12  Treffer  für „E-learning“
Alle Filter löschen
    Pieringer / Mery | Computer Vision for X-Ray Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Pieringer / Mery Computer Vision for X-Ray Testing

    Imaging, Systems, Image Databases, and Algorithms
    2. Auflage 2021
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-56768-2
    Medium: Buch
    74,89 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Pieringer / Mery | Computer Vision for X-Ray Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Pieringer / Mery Computer Vision for X-Ray Testing

    Imaging, Systems, Image Databases, and Algorithms
    2. Auflage 2021
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-030-56771-2
    Medium: Buch
    53,49 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Wang / Huang | New Technologies in Electromagnetic Non-destructive Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wang / Huang New Technologies in Electromagnetic Non-destructive Testing

    1. Auflage 2016
    Verlag: Springer Nature Singapore
    ISBN: 978-981-10-0577-0
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Wang / Huang | New Technologies in Electromagnetic Non-destructive Testing | Buch | Sack Fachmedien

    Wang / Huang New Technologies in Electromagnetic Non-destructive Testing

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2016
    Verlag: Springer Nature Singapore
    ISBN: 978-981-10-9199-5
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Benediktovich / Ulyanenkov / Feranchuk | Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis | Buch | Sack Fachmedien

    Benediktovich / Ulyanenkov / Feranchuk Theoretical Concepts of X-Ray Nanoscale Analysis

    Theory and Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer
    ISBN: 978-3-662-52054-3
    Medium: Buch
    149,79 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Liu | Acoustic Emission Signal Analysis and Damage Mode Identification of Composite Wind Turbine Blades | Buch | Sack Fachmedien

    Liu Acoustic Emission Signal Analysis and Damage Mode Identification of Composite Wind Turbine Blades

    Erscheinungsjahr 2023
    Verlag: Elsevier Health Sciences
    ISBN: 978-0-323-88652-9
    Medium: Buch
    197,50 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Hein / Lepik | Haar Wavelets | Buch | Sack Fachmedien

    Hein / Lepik Haar Wavelets

    With Applications
    2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-04294-7
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Hein / Lepik | Haar Wavelets | Buch | Sack Fachmedien

    Hein / Lepik Haar Wavelets

    With Applications
    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-34452-2
    Medium: Buch
    106,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Schmerr Jr. | Fundamentals of Ultrasonic Phased Arrays | Buch | Sack Fachmedien

    Schmerr Jr. Fundamentals of Ultrasonic Phased Arrays

    Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-34465-2
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Schmerr Jr. | Fundamentals of Ultrasonic Phased Arrays | Buch | Sack Fachmedien

    Schmerr Jr. Fundamentals of Ultrasonic Phased Arrays

    2015
    Verlag: Springer International Publishing
    ISBN: 978-3-319-07271-5
    Medium: Buch
    213,99 € (inkl. MwSt.)
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Bereits im Warenkorb
    Uhl | Smart Diagnostics V | Sonstiges | Sack Fachmedien

    Uhl Smart Diagnostics V

    Selected, peer reviewed papers from the 5th International Congress of Technical Diagnostics, September 3-5, 2012, Krakow, Poland
    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Trans Tech Publications
    ISBN: 978-3-03795-586-4
    Medium: Sonstiges
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Zur Detailseite
    Uhl | Smart Diagnostics V | Buch | Sack Fachmedien

    Uhl Smart Diagnostics V

    Selected, peer reviewed papers from the 5th International Congress of Technical Diagnostics, September 3-5, 2012, Krakow, Poland
    Erscheinungsjahr 2014
    Verlag: Trans Tech Publications
    ISBN: 978-3-03785-889-9
    Medium: Buch
    Lieferzeit ca. 10 Werktage
    Zur Detailseite

Ist Ihr gesuchter Titel nicht Teil der Ergebnisse? Dann nutzen Sie unser Kontaktformular