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Technik Allgemein
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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