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Technische Wissenschaften
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Xu / Liu Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
2013Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-00532-4Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Liu / Xu Trace-Based Post-Silicon Validation for VLSI Circuits
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2014Verlag: SpringerISBN: 978-3-319-37594-6Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
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Cao / Ren / Liu Process-Aware Systems
Second International Workshop, PAS 2015, Hangzhou, China, October 30, 2015. Revised Selected Papers1. Auflage 2016Verlag: Springer Nature SingaporeISBN: 978-981-10-1018-7Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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