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Technische Wissenschaften
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Pineda de Gyvez Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Softcover Nachdruck of the original 1. Auflage 1993Verlag: Springer USISBN: 978-1-4613-6383-5Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
1993. Auflage 1992Verlag: Springer UsISBN: 978-0-7923-9306-1Medium: Buch106,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-0-387-46546-3Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Zjajo Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Design, Test and CalibrationSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2011Verlag: Springer NetherlandsISBN: 978-94-024-0530-9Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Pineda de Gyvez / Sachdev Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
2. Auflage Softcover version of original hardcover Auflage 2007Verlag: Springer USISBN: 978-1-4419-4285-2Medium: Buch213,99 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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Zjajo / Pineda de Gyvez Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters
Design, Test and Calibration1. Auflage. 2010Verlag: SpringerISBN: 978-90-481-9724-8Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
Lieferzeit ca. 10 Werktage
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