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Technische Wissenschaften
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Ubar / Raik / Jenihhin Structural Decision Diagrams in Digital Test
Theory and ApplicationsErscheinungsjahr 2025Verlag: BirkhäuserISBN: 978-3-031-44736-5Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Ubar / Jutman / Raik Structural Decision Diagrams in Digital Test
Theory and Applications1. Auflage 2024Verlag: Springer Nature SwitzerlandISBN: 978-3-031-44733-4Medium: Buch235,39 € (inkl. MwSt.)
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Hollstein / Raik / Reis VLSI-SoC: System-on-Chip in the Nanoscale Era - Design, Verification and Reliability
24th IFIP WG 10.5/IEEE International Conference on Very Large Scale Integration, VLSI-SoC 2016, Tallinn, Estonia, September 26-28, 2016, Revised Selected PapersSoftcover Nachdruck of the original 1. Auflage 2017Verlag: Springer International PublishingISBN: 978-3-319-88379-3Medium: Buch53,49 € (inkl. MwSt.)
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