Datenbank, Deutsch
Carl Heymanns Verlag
Das Werk bietet einen umfassenden Überblick über das neue amerikanische Patentwesen nach Leahy-Smith America Invents Act. Es wendet sich an Praktiker und informiert schnell und fundiert über die Möglichkeiten und Besonderheiten des US-Patentrechts.
• "first inventor to file"
• "Post-grant review" (neu; vgl. Einspruch in Europa)
• "Inter partes review" (statt inter-partes re-examination)
• "Derivation" (statt interference)
• "Supplemental examination" (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents)
• "novelty" und "prior art" (wesentliche Änderungen)
Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert:
• materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren;
• Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens.
Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.
Begründet von Manfred Schlenk, Curt M. Avery, fortgeführt von Richard L. Mayer.
Ab der 5. Auflage bearbeitet von Jeffrey M. Butler und David Molnia.
Die Autoren:
Jeffrey M. Butler, Acting General Counsel and Senior Advisor/Global IP-Consulting, New York, USA
David Molnia, Patentanwalt, München
unter Mitarbeit von Andreas Holzwarth-Rochford, Patentanwalt, Frankfurt
Aus den Besprechungen:
»Aus der Sicht des Rezensenten kann das Werk jedem einschlägig tätigen Praktiker uneingeschränkt empfohlen werden und sollte einen Platz in jeder gut sortierten Patentbibliothek haben.«
Patentanwalt lngo A. Brückner, LL.M., Gerlingen, in: GRUR Int 04/17
Ihre Vorteile auf Wolters Kluwer Online:
• Onlineausgabe des Werks - überall, jederzeit und schnell verfügbar - mit zusätzlichem Zugriff auf die im Werk verlinkten, weiteren Wolters Kluwer Inhalte
• Bereits ab dem ersten Abonnement erhalten Sie Zugriff auf die umfangreiche Rechtsprechungs- und Gesetzesdatenbank
• Unser aktives Portfolio-Management berücksichtigt fortlaufend die aktuellen Rechtsentwicklungen
• Digitale Helfer wie die Such-Funktion, Dual View, Alerts und der Fassungsvergleich unterstützen Sie beim effizienten Arbeiten
Mayer / Butler / Molnia
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• "first inventor to file"
• "Post-grant review" (neu; vgl. Einspruch in Europa)
• "Inter partes review" (statt inter-partes re-examination)
• "Derivation" (statt interference)
• "Supplemental examination" (neu, zusätzliche Prüfung des eigenen Patents)
• "novelty" und "prior art" (wesentliche Änderungen)
Anhand von Beispielen aus der Rechtsprechung werden ausführlich erläutert:
• materielle Patentierbarkeitsvoraussetzungen, Anmeldeformalitäten und Prüfungsverfahren;
• Grundsätze des Patentverletzungsverfahrens.
Der Anhang enthält oder nimmt Bezug auf die wichtigsten Quellen des US-Patentrechts United States Code, Title 35 Patents (35 USC), Leahy-Smith America Invents Act und die wichtigsten Federal Regulations (37 CFR), Manual for Patent Examination Procedure. Anhand der Übersichten im Anhang findet der Leser schnell, wo im Text eine bestimmte Vorschrift erläutert wird.
Begründet von Manfred Schlenk, Curt M. Avery, fortgeführt von Richard L. Mayer.
Ab der 5. Auflage bearbeitet von Jeffrey M. Butler und David Molnia.
Die Autoren:
Jeffrey M. Butler, Acting General Counsel and Senior Advisor/Global IP-Consulting, New York, USA
David Molnia, Patentanwalt, München
unter Mitarbeit von Andreas Holzwarth-Rochford, Patentanwalt, Frankfurt
Aus den Besprechungen:
»Aus der Sicht des Rezensenten kann das Werk jedem einschlägig tätigen Praktiker uneingeschränkt empfohlen werden und sollte einen Platz in jeder gut sortierten Patentbibliothek haben.«
Patentanwalt lngo A. Brückner, LL.M., Gerlingen, in: GRUR Int 04/17
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