Thomas / Gemming Analytische Transmissionselektronenmikroskopie

Eine Einführung für den Praktiker
2013
ISBN: 978-3-7091-1440-7
Verlag: Springer Wien
Format: PDF
Kopierschutz: 1 - PDF Watermark

E-Book, Deutsch, 363 Seiten, eBook

Die Autoren des Buches fassen ihre im Zuge vielseitiger Lehrtätigkeit gesammelten Erfahrungen zu häufig gestellten Fragen und Problemen von Anfängern im Umgang mit dem analytischen Transmissionselektronenmikroskop anschaulich zusammen. Dabei bilden Erklärungen anhand einfacher Modellvorstellungen und Hinweise zur praktischen Umsetzung des Erlernten die Schwerpunkte des Buches.

Dieses praxisnahe Lehrbuch bietet somit eine klare und verständliche Einführung für all jene, die für Ihre Arbeit das Transmissionselektronenmikroskop verwenden wollen, jedoch noch nicht speziell dafür ausgebildet sind.

Zielgruppe

Graduate

Autoren/Hrsg.

Thomas, Jürgen

Gemming, Thomas

Inhaltsverzeichnis

Aus dem Inhalt: Wozu dieser Aufwand.- Was wir über Elektronenoptik und den Aufbau eines Elektronenmikroskops wissen sollten.- Wir präparieren elektronentransparente Proben.- Wir beginnen mit der praktischen Arbeit.- Wir schalten um auf Elektronenbeugung.- Warum sehen wir Kontraste im Bild.- Wir erhöhen die Vergrößerung.- Wir schalten um auf Rastertransmissionselektronenmikroskopie.- Wir nutzen die analytischen Möglichkeiten.- Grundlagen genauer erklärt (etwas mehr Mathematik).

Über Autor(innen)

Jürgen Thomas (Jahrgang 1948) studierte 1966 bis 1971 an der Technischen Universität Dresden Physik. Er diplomierte und promovierte bei Prof. Alfred Recknagel in Dresden mit Arbeiten zur Elektronenmikroskopie und zu Elektron-Festkörper-Wechselwirkungen. Ab 1978 war er in der Industrieforschung für die Entwicklung von Elektronenstrahlschweiß- und Vakuumtechnologien verantwortlich. 1990 wandte er sich wieder der Elektronenmikroskopie zu und trat in das jetzige Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden ein, wo er bis heute im Labor für analytische Transmissionselektronenmikroskopie arbeitet.Thomas Gemming (Jahrgang 1969) studierte 1988 bis 1994 an der Technischen Hochschule Karlsruhe Physik. Er promovierte 1998 auf dem Gebiet der höchstauflösenden Transmissionselektronenmikroskopie am Max-Planck-Institut für Metallforschung in Stuttgart bei Prof. Manfred Rühle. Als wissenschaftlicher Mitarbeiter erweiterte er sein Arbeitsgebiet auf die analytische Elektronenmikroskopie. Im Jahr 2000 wechselte er an das Leibniz-Institut für Festkörper- und Werkstoffforschung (IFW) Dresden, wo er die Abteilung Mikro- und Nanostrukturen leitet. Er ist Geschäftsführer der Deutschen Gesellschaft für Elektronenmikroskopie e.V.