Wang | Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis | Buch | 978-0-521-01795-4 | sack.de

Buch, Englisch, 460 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 788 g

Wang

Reflection Electron Microscopy and Spectroscopy for Surface Analysis


Erscheinungsjahr 2005
ISBN: 978-0-521-01795-4
Verlag: Cambridge University Press

Buch, Englisch, 460 Seiten, Format (B × H): 170 mm x 244 mm, Gewicht: 788 g

ISBN: 978-0-521-01795-4
Verlag: Cambridge University Press

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Autoren/Hrsg.

Wang, Zhong Lin
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